低速信号完整性测试

低速信号完整性测试原理：

对于大多数电子产品而言，时钟频率低于100MHz或者上升下降沿时间大于1ns的信号，我们都称之为低速信号。采用相关仪器对这些信号的测试，我们称之为低速信号完整性测试。

低速信号完整性测试的目的：

产品设计验证及异常整改。

低速信号完整性应用范围：

有用到低速信号的电子产品。

低速信号完整性测试内容：

从信号参数上有：时序，电压，过冲，跳变时间等，

从信号名称上有：RST&PWROK, Power on/off sequence,LPC,COM,UART,SPI,I2C,SMBUS等

低速信号完整性测试常用设备：

低带宽示波器,可编程精密电源，可编程电子负载。