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浅析手机跌落测试的检验概况
发布时间:2019-06-17 | 信息来源:深圳市启威测标准技术服务有限公司如今电子产品设备更新换代的速度非常快,未来电子产品向着向小型化、集成化、智能化、高性能化以及使用人性化趋势发展。电子产品不可避免的会经受跌落带来的撞击情况,特别是从手中或者桌上掉下来产生的撞击。能否经受这种撞击对于设计一个成功的产品很是关键。接下来启威测小编和大家浅析一下关于手机跌落测试的检验概况。
要评估一个电子产品受到撞击载荷时的响应,需要结合实验测试和仿真分析。在设计过程中,任意阶段都可以进行模拟,同时成本低,能够提供详细的结果和模型上任意点的信息(应力、应变、加速度等等)。手机是我们工作和生活中经常使用的电子设备,而使用到跌落测试检测到的就是其手机背面顶部到底部跌落LCD、IC、3D玻璃电池盖zui大主应变均超过各自失效判据值,破裂风险高;手机背面跌落,主板部分器件摆向会造成器件失效,建议旋转器件长度方向;对手机进行各种模拟分析之前,手机仿真常会遇到手机的结构复杂无法快速完成前处理过程的问题。
综上所述就是深圳跌落测试实验室的小编给大家讲述的内容,大家都清楚了吗?更多的精彩讲解欢迎大家关注启威测官网。我们启威测根据CNAS国家认可实验室要求建设,配合高科技电子产品设计、验证、生产过程中的检测需求组建科技实验室,并严格按照ISO/IEC17025的规定进行实验室质量体系建设与业务管理,保证检测结果的科学性、公正性和准确性,为客户提供优质、可靠、高效、满意的服务。
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